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NP55N03SUG
PACKAGE DRAWING (Unit: mm)
TO-252 (MP-3ZK)
4
6.5 ± 0.2
5.1 TYP.
4.3 MIN.
2.3 ± 0.1
0.5 ± 0.1
No Plating
1
2
3
No Plating
1.14 MAX.
2.3
2.3
0.76 ± 0.12
0 to 0.25
0.5 ± 0.1
EQUIVALENT CIRCUIT
Drain
1. Gate
2. Drain
3. Source
4. Fin (Drain)
Body
1.0
Gate
Diode
Source
Remark Strong electric field, when exposed to this device, can cause destruction of the gate oxide and ultimately
degrade the device operation. Steps must be taken to stop generation of static electricity as much as
possible, and quickly dissipate it once, when it has occurred.
6
Data Sheet D18320EJ2V0DS
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